用于测量在允许电压下不导电的材料、电工产品及元器件绝缘电阻，配恒温水浴可测不一样的温度下无屏蔽层塑料电线电缆绝缘电阻。最高量程10¹⁶Ω，超量程经电流换算可达10²⁰Ω，测试电压1-1000V。

  薄膜体积表面电阻率测试仪BEST‑380 是面向绝缘薄膜、防静电薄膜、高分子片材、高分子涂层材料开发的直流高阻测试设备，依托微处理器架构实现绝缘电阻、泄漏电流、体积电阻、表面电阻同步采集运算，大范围的应用于材料实验室、生产质检、第三方检验测试的机构、高校科研院所，针对 PET 薄膜、PE 薄膜、CPP 薄膜、光学保护膜、防静电功能膜、高分子绝缘膜、复合功能薄膜开展电学性能检验测试工作。

  在高分子薄膜行业生产与研发环节，体积电阻率、表面电阻率是评价薄膜绝缘性能、静电耗散性能的关键指标。绝缘薄膜需要具备足够高的体积电阻率，降低介质内部漏电流，保障电气隔离效果；防静电薄膜则需要把表面电阻率控制在合理区间，实现电荷缓慢泄放，避免静电积聚造成元器件损伤、粉尘吸附等一系列生产问题。薄膜类试样厚度薄，部分样品阻抗水平跨度很大，从半导电区间到超高绝缘区间都有覆盖，普通电阻测量设备容易受到边缘泄漏电流、空间电磁干扰、介质极化效应影响，出现数据重复性差、数值漂移的现象，这款仪器针对薄膜样品的测试难点进行软硬件适配，搭配标准三电极屏蔽测试组件，完成不同阻抗等级薄膜试样的标准化检测。

  仪器整体采用一体化整机设计，配套屏蔽测试箱体，抑制外界电磁信号对 pA 级微弱电流信号的干扰。测试电压输出区间 1‑1000V 连续可调，具备上千档细分电压设置，适配不一样的材料标准对于测试电压的要求。设备内部集成信号放大采集单元，可采集微弱的直流泄漏电流，结合电极几何参数、试样厚度参数，自动完成体积电阻率、表面电阻率换算，无需人工手动代入公式进行计算。设备支持手动、自动两种测量模式，可自定义测量延时、放电延时参数，适配绝缘薄膜介质极化特性，等待电流趋于稳定之后再读取测量结果，减少极化带来的数据偏差。整机搭载存储单元，可保存多组自定义测试方案，开机可以直接调取预设参数，减少每次试验重复设置的工作量。同时配置多种数据交互接口，支持外接存储设备、上位机软件、自动化分选系统对接，既能够很好的满足实验室单机手动检测，也可以对接流水线自动化测试场景，实现批量试样的数据采集与记录工作。

  仪器在开发阶段参考多项国内以及国际材料电学性能测试标准，可执行绝缘材料、防静电材料、纺织品、橡胶、陶瓷、地坪材料、防护服、防静电鞋材等多品类样品电阻电阻率检测，除各类高分子薄膜之外，也兼容平板固体绝缘试样、部分半导电板材试样测试。仪器整机遵循企业技术规范，设备可送至计量检验测试的机构开展计量校准，出具对应的校准证书，满足实验室仪器量值溯源的管理要求。

  需要说明，GB/T1410‑2006 虽已废止，很多现存技术文档、老版工艺文件、合同技术方面的要求仍会引用该标准，本仪器可根据该标准的试验流程完成测试；新项目设计阶段，建议优先采用 GB/T31838 系列新版国家标准开展检测工作，仪器硬件条件一样能适配新版标准的试验条件要求。

  薄膜体积表面电阻率测试仪BEST‑380 基于直流三电极测试体系，遵从欧姆定律 R=U/I 完成信号采集与运算处理。整套检测系统包含主机单元、屏蔽箱体、同心圆环三电极组件；三电极包含测量主电极、环形保护电极、高压对电极，保护电极是保障薄膜试样测试准确度的核心部件，能够把试样表面边缘产生的泄漏电流直接旁路导出，避免边缘漏电流混入测量回路，解决两电极模式积电流、表面电流互相干扰的缺陷，尤其适合厚度薄、阻抗高的绝缘薄膜试样测试场景。

  体积电阻测试模式下，高压电极与测量电极分别布置在薄膜试样的两个正反表面，直流电压施加在试样厚度方向，电流垂直穿过薄膜材料本体；保护电极将薄膜表面边缘泄漏电流旁路，测量电极只采集穿过材料内部的体积电流分量。仪器采集施加电压数值以及回路电流数值，计算体积电阻 Rv，读取试样实测厚度，结合三电极主电极有效面积，自动换算输出体积电阻率 ρv，体积电阻率单位 Ω・cm，代表材料本体阻碍电流穿透的能力，只和材料本身属性相关，不受试样几何尺寸的比例影响。

  表面电阻测试模式下，电场建立在薄膜试样同一侧表面，电流沿着薄膜表面层流动；保护电极起到隔离材料本体体积电流的作用，测量电极只采集沿着试样表面流动的电流信号。仪器计算得到表面电阻 Rs，结合主电极周长、电极间隙几何参数换算得到表面电阻率 ρs，表面电阻率单位 Ω，该参数表征材料表面的导电能力，测试结果不受薄膜试样厚度变化带来的影响Tektronix。

  高分子绝缘薄膜属于电介质材料，施加直流电压之后会出现介质极化现象，回路电流会随着通电时间发生明显的变化，电压刚接通瞬间电流数值偏大，之后逐步衰减趋于稳定。仪器支持设置测量延时，等待极化过程发展完成，电流读数稳定之后再记录数据，以此降低介质极化带来的测试数据波动。整机内置高压短路保护逻辑，测试结束之后回路完成放电操作，保障操作使用安全。全部电流电压信号在主机内部完成采集放大，主控单元读取电极几何参数、试样厚度参数，直接输出电阻以及电阻率结果，减少人工计算引入的人为错误。

  屏蔽箱体能隔绝空间环境当中的静电、工频电磁辐射干扰。薄膜试样测试的电流信号属于 pA 级别微弱信号，外界电磁场易引起信号漂移，闭合屏蔽箱开展测试，可以有明显效果地提升数据重复性，是高阻薄膜测试必不可少的配套组件。

  显示采用 4.3 寸高分辨率 TFT 屏显示，简单易操作 机身小巧，功能强大测试性能卓越 回读电压精度 0.5%±1V 绝缘电阻最大精度 1% 快速测试 最小测试周期仅需 200ms 恒压测试 采用恒压测试法快速测量绝缘电阻丰富的接口配置 HANDLER 口 RS‑232 接口 以太网接口 U 盘接口 可连接上位机软件操作

  参数 一般功能: 测量参数 绝缘电阻 R, 泄漏电流 I, 表面电阻 Rs, 体积电阻 Rv 测试电压 1‑1000v 1000 个档位可以调 测试范围 电阻 10²Ω ~ 10¹⁶Ω 基本覆盖半导电材料和超绝缘材料的电阻测量 (超出显示电流最大换算可到 20 次方), 电阻率最高可达到 10²²Ω・cm 测量方式：手动 / 自动两种 界面语言选择：英文 / 中文两种 显示位数：4/5 位 两种选择 测量模式：三种 测试速度可选择 快速 5 次 / 秒，慢速 1 次 / 秒，两种可选 回读电压精度 0.5%±1V 测试特点：带设置记忆功能开机一键测试出结果不用反复设置 可设定测量延时和放电延时 十种自定义测量模式可以用户自己编辑开机直接调取满足多种材料的测试需求 量程超限显示 量程上超和量程下超 输入端子 香蕉插头，BNC 插头 精度保证期 1 年根据计量证书有效期 可在全国任意检测所检测精度保证 操作温度和湿度 0℃到 40℃80% RH 以下 (无凝结) 存储温度和湿度‑10℃到 60℃80% RH 以下 (无凝结) 操作环境 室内，最高海拔 2000m 电源 电压：110V/220V AC 频率：47Hz/63Hz 两种供电模式 功耗 50 W 尺寸 约 331 mm x 329 mm x 80 mm 重量 约 4.1kg

  标准配置: 1、测试仪器 1 台 2、电源线、出厂测试报告 1 份 6、上位机连接线 数据串口组件 1 套

  1、电压连续可调，多档位自定义设置 测试电压覆盖 1V‑1000V 区间，拥有一千余细分档位，区别于传统设备固定几档电压输出的模式，可以按照不一样的材料标准要求设置对应的试验电压。部分薄膜材料标准会指定 10V、100V、250V、500V、1000V 不同试验电压等级，仪器都可以直接设置输出；针对新材料研发阶段，也可以选取中间电压开展对比试验，研究电压变化对薄膜电阻率测试结果带来的影响。

  2、多组测试方案存储调取，参数记忆功能 设备内部可以保存十套自定义测量模式，用户都能够把不同薄膜材料对应的测试电压、测量延时、放电延时、试样厚度参数预先编辑存储，后续开展同类型样品测试，开机直接调取预设方案，不需要重复逐项录入参数，减少操作步骤，降低人工输入参数造成失误的概率。仪器具备电压记忆功能，关机重启之后可以保留上一次使用的配置参数，实现开机一键启动测试流程。

  3、丰富数据交互与自动化对接能力 整机配置 HANDLER 接口、RS232 串口、以太网 LAN 接口、U 盘接口。RS232、以太网接口支持 SCPI 标准仪器控制指令集，计算机上位机软件能够实现远程控制、测试参数下发、实时读取测试数据，便于科研实验室大批量试验数据归档记录。HANDLER 接口可以对接外部自动分选机构，把仪器集成到自动化流水线，完成大批量薄膜试样的自动化检测，输出分选讯响信号，实现合格、不合格样品的区分。U 盘接口支持本地数据导出，不需要电脑即可保存试验记录，方便数据拷贝归档。

  4、双速度档位可选，适配不同测试场景 测试速度分为快速 5 次 / 秒以及慢速 1 次 / 秒两种档位。快速档位适合半导电薄膜、中低阻抗薄膜的批量筛选检测；慢速档位采样时间更长，信号滤波充分，更适合超高绝缘薄膜试样，降低噪声干扰对读数的影响。同时支持自定义测量延时与放电延时，针对极化效应明显的绝缘薄膜，设置足够的电化等待时间，读取稳定状态下的测试数值；放电延时保障每次测试完成之后试样充分释放残余电荷，避免上一次测试的残余电荷对下一组样品数据带来干扰，对于连续重复测试尤为重要。

  5、多物理量同步显示，自动换算电阻率 屏幕同步展示绝缘电阻、泄漏电流、体积电阻、表面电阻、测试电压多项物理量，不需要单独记录电压电流再手动计算。录入薄膜试样厚度之后，仪器结合电极几何参数，自动完成体积电阻率、表面电阻率换算直接输出结果。支持 4 位、5 位显示位数切换，满足多种等级数据读取精度的使用需求，同时具备量程超限提示，出现量程上超、量程下超情况屏幕给出对应提示，便于操作人员判断试样阻抗是否超出当前有效测量区间。

  6、中英文操作界面，人机交互友好 整机 4.3 英寸 TFT 彩色显示屏，操作逻辑简洁，支持中文、英文两套界面切换，既能够完全满足国内实验室日常使用，也适配对外合作、出口配套的使用场景。测量模式分为手动、自动，自动模式下仪器内部继电器自动完成体积电阻、表面电阻回路切换，不需要用户改动屏蔽箱外部接线，减少接错线路带来测试失败的情况。

  7、便于计量校准，满足实验室质控管理 设备精度保证周期 1 年，可送往各地计量检验测试的机构开展计量，支持出具校准证书，满足 CNAS 实验室对于仪器设施量值溯源的管控要求。输入端子包含香蕉插头与 BNC 两种接口形式，适配标准计量电阻箱的接线，方便计量机构开展整机指标校验。仪器工作环境为室内普通实验室环境，海拔 2000 米以内，操作环境和温度 0‑40℃，存储温度‑10‑60℃，环境湿度控制 80% RH 以内无凝露条件即可。整机供电支持 110V‑240V 宽幅交流电压，国内外供电环境都可以适配。

  薄膜试样制备会直接影响最终测试结果，在开展检测前，需要对薄膜样品进行裁剪、清洁、恒温恒湿预处理工作。 裁剪试样：薄膜试样尺寸需要适配三电极组件，常规方形试样尺寸可以选取 100mm×100mm，薄膜表面不允许存在折痕、针孔、划痕、气泡、油污、粉尘等缺陷；如果薄膜表面存在保护膜，需要小心剥离，不能划伤薄膜本体。同一种材料，建议准备不少于 3 件平行试样，取多组测试平均值作为最终试验结果，降低试样个体差异带来的数据离散。 试样清洁：能够正常的使用无尘软布蘸取无水乙醇轻轻擦拭薄膜两面，去除表面油污、手汗、灰尘，擦拭完成后放置无尘环境自然晾干，不允许直接高温烘干，避免薄膜发生形变、分子结构变化，改变薄膜本身电学性能。 恒温恒湿预处理：绝缘、防静电高分子薄膜电阻率对环境温湿度十分敏感，湿度升高，薄膜表面会吸附水分子，会造成表面电阻率显而易见地下降。按照 GB/T1410‑2006 标准的要求，试样需要放置 23±2℃，相对湿度 50±5% RH 环境条件下进行恒温恒湿预处理，预处理时长根据材料特性选取，常见设置 24h‑48h。预处理完成之后，尽快转移至仪器屏蔽箱内部开展测试，减少试样在外界环境当中暴露时间，防止重新吸附水汽。 厚度测量：使用千分尺在薄膜试样多个位置测量厚度，取平均厚度数值录入仪器，厚度参数是体积电阻率换算的重要输入条件，厚度测量偏差会直接带来体积电阻率计算偏差。

  接通电源开启整机，仪器完成开机自检，等待显示屏进入主操作界面；确认屏蔽箱内部三电极组件表面清洁无杂质，电极接触面无氧化，电极放置平整。检查所有接线端子连接牢固，确认 HANDLER、网口等外设接口没有异常短接。若需要使用上位机软件，完成通讯线路连接，确认通讯参数配置匹配。 依据薄膜对应的检验测试标准，调取预先存储好的测试方案，或者手动设置测试电压、测量延时、放电延时，录入试样平均厚度数值；确认测量模式选择手动或者自动，选定测试速度档位。

  打开屏蔽箱箱门，将预处理完成的薄膜试样平整放置在下高压电极之上，保证薄膜试样平整无褶皱，放下上方测量电极，保证电极和薄膜两面充分均匀接触，别出现局部悬空。关闭屏蔽箱箱门，屏蔽箱需要完全闭合，保障屏蔽效果，减少外界电磁干扰。 启动测试流程，如果设置自动模式，仪器内部自动切换回路，依次完成体积电阻、表面电阻测试；手动模式下，可以分别选择体积测试模式、表面测试模式，分别启动。 高分子薄膜存在介质极化，按照标准规范，等待设置的测量延时结束，仪器读取稳定状态下的电阻、电流数据，屏幕直接显示电阻以及换算后的电阻率数值。单组试样测试结束，仪器自动执行放电流程，释放试样上残余电荷。 记录本组试样数据，打开屏蔽箱，更换下一件平行试样，重复上述装夹、测试步骤，完成全部平行试样检测。

  实操小提示：针对同一件薄膜试样，建议优先测试表面电阻率，之后再测试体积电阻率。如果先做体积测试，薄膜经过电压极化之后，残余电荷会对后续表面电阻读数带来干扰，造成数据漂移。全部样品测试结束，导出或者保存试验数据，关闭仪器电源。

  高分子薄膜材料的电阻率测试，仪器硬件只是其中一环，环境条件、试样状态、测试参数设置，都会给最终结果带来明显波动，在试验过程中要重点关注以下影响要素。

  第一，环境温度与相对湿度。水分子会吸附在高分子薄膜表面，形成微弱导电水膜，湿度升高，表面电阻率会出现明显下降；温度变化会改变高分子内部分子链运动状态，对体积电阻率产生影响。所以对于比对试验、型式检验，必须严格控制温湿度条件，不能在潮湿、结露环境开展高阻薄膜测试。实验室建议配备恒温恒湿试验箱，完成试样预处理以及测试环境管控。

  第二，介质极化效应。几乎所有高分子绝缘薄膜，施加直流电压后都会发生极化，电流随通电时间逐步衰减。如果没有设置足够的测量延时，通电立刻读取数据，得到的电阻数值会偏低。不同薄膜极化快慢不同，常规标准推荐 60s 读取读数，部分厚膜、高绝缘材料，需要延长电化时间；研发对比试验中，也可以记录不同通电时间下电阻率变化，研究材料极化特性。

  第三，试样表面状态。指纹、汗液、灰尘、脱模剂、表面析出助剂，都会改变薄膜表面导电特性，造成表面电阻率数据失真。薄膜裁剪过程当中摩擦产生的静电，也会干扰微弱电流采集，试样预处理、装夹操作应当佩戴无尘手套，禁止直接用手触碰薄膜测试区域。

  第四，电极接触状态。薄膜很薄，如果电极没有压合平整，局部存在缝隙，会造成接触不良，带来数据重复性变差。电极表面如果氧化、沾有杂质，也会影响接触效果，需要定期清洁电极组件。

  第五，测试电压选择。部分防静电薄膜、填充改性高分子薄膜，电阻率会随施加电压发生变化。同一薄膜，不同测试电压得到的电阻率数值并不一致。产品检测时，必须严格按照产品标准规定选取测试电压，不能随意更换电压档位，否则得到的结果不具备对比意义。

  第六，电磁屏蔽效果。薄膜高阻测试采集 pA 级微弱电流，手机、变频器、电机、大功率电源设备，都会产生电磁干扰，造成读数跳变。测试时屏蔽箱箱门务必关严，仪器尽量远离大功率电气设备，电源线不要和测试信号线并行排布。

  电子行业大量使用各类绝缘薄膜、防静电包装薄膜，包括 PET 防静电膜、PE 防静电袋膜、CPP 功能膜、光学保护膜、离型膜。集成电路、PCB 电路板、MEMS器件都属于静电敏感器件，生产转运过程使用的薄膜包装材料，需要控制表面电阻率，防止静电积累放电损坏元器件。使用本测试仪检测薄膜体积、表面电阻率，可以评估包装材料静电耗散能力，筛选符合 ESD 管控要求的包装膜料，用于来料质检、配方研发、成品出厂检验。同时也可以测试柔性电路板绝缘介质膜、封装绝缘薄膜的绝缘性能，确认薄膜本体体积电阻率指标是否满足电气隔离设计要求。

  LCD、OLED 面板生产制造会大量使用光学保护膜、偏光片基膜、抗反射涂层薄膜。这类薄膜一方面起到物理防护作用，另一方面需要管控静电性能，静电积聚容易吸附空气中微小颗粒，造成显示屏脏点不良。仪器可以检测光学薄膜的表面电阻率、体积电阻率，用于新材料配方研发，以及来料入厂检测。部分透明导电改性薄膜，阻抗区间跨半导电‑绝缘区间，设备的宽量程能力可以适配该类样品检测。

  新能源锂电、储能行业会用到多种高分子薄膜，例如隔膜基材薄膜、绝缘隔离膜、热压绝缘复合膜。隔膜薄膜体积电阻率直接关系电池内部漏电流水平，是重要安全相关指标；配套的包装绝缘膜、防静电保护膜同样需要电学性能检测。科研研发阶段，通过仪器测试不同改性配方薄膜电阻率，对比不同工艺条件对薄膜电学性能带来的变化；生产端用于批次抽检，保障批量产品指标稳定。

  塑料改性企业会开发抗静电母粒、抗静电改性薄膜，通过添加导电填料实现防静电效果。不同填料添加比例、加工工艺、烘烤熟化条件，都会改变薄膜体积、表面电阻率。本仪器可以完成不同配方试样的对比测试，辅助研发人员筛选配方工艺参数。除薄膜之外，也可以测试改性塑料片材，绝缘高分子板材，完成材料基础电学表征。

  第三方材料检测实验室，需要满足多品类样品检测需求，该设备可以匹配多项国家标准，可出具电阻率检测数据，用于检测报告输出；设备支持计量校准，满足实验室 CNAS 体系对于检测仪器的管控。高校材料学院、高分子相关专业，用于教学实验、课题研究，研究高分子介电、静电相关性能，设备支持上位机采集数据，便于大量试验数据记录分析。

  仪器也可用于纺织品防静电织物、橡胶绝缘片材、防静电涂层、地坪样板、陶瓷样板、防护服面料、鞋材试样检测，覆盖防静电安全相关材料的质检工作。

  市面上体积表面电阻率测试仪产品较多，不同型号设备在测量量程、电压输出方式、存储能力、数据接口、自动化功能上面存在差异，下面针对 BEST‑380 和市面上常见 ZC‑90 系列、212 型号设备做能力对比说明，方便选型判断。

  ZC‑90 系列设备，电阻测量区间 5‑12 次方，采用 LED 数码管显示；测试电压为固定档位，仅提供 100/250/500/1000V 四档；测量电阻率需要人工换算，没有参数记忆存储，不支持上位机软件通讯，测试过程需要手动调节量程，适合预算有限、样品阻抗不高、测试频次较低的简单检测场景。

  212 型号设备，电阻测量区间 4‑14 次方，彩屏显示；电压提供 10/50/100/250/500/1000V 六档固定档位；厚度参数每次测试需要手动输入，不支持参数方案存储，不支持上位机对接，适合常规固定标准电压的试样检测，不适合需要频繁变更测试电压的研发场景。

  BEST‑380 设备，电阻测量范围 10²Ω~10¹⁶Ω，超出显示量程可以通过换算拓展至 20 次方；电压 1‑1000V 上千档位连续可调；彩屏交互，支持测试方案存储记忆，自动换算电阻率；具备完整上位机、LAN、HANDLER 自动化接口，自动换挡扫描，更适合薄膜类样品研发检测、多标准切换、批量测试、对接自动化产线的使用场景。

  选型时除了量程、电压范围之外，还需要着重关注屏蔽箱、三电极组件配置。薄膜属于高阻抗试样，如果缺少合格屏蔽箱体，很容易出现数据跳变，因此完整屏蔽测试箱体是薄膜电阻率测试不可缺少的配套部件。同时要确认仪器支持计量校准，满足实验室量值溯源要求。

  1、测试电压最高可达 1000V，仪器工作时电极组件带有高压，不要在测试进行过程中打开屏蔽箱、触碰电极部件；测试结束等待仪器放电完成之后，再接触试样和电极，避免高压触电风险。 2、仪器工作环境保持干燥，环境湿度不要超过 80% RH，无凝露；不要在腐蚀性气体、大量粉尘环境长期存放使用。 3、三电极组件需要定期维护，如果电极表面出现氧化、污渍，可以使用无水乙醇无尘布擦拭，晾干后再使用，保证电极接触面平整洁净。 4、不要将导电碎屑、薄膜碎片落入屏蔽箱内部，防止造成电极之间短路，损坏仪器信号采集单元。 5、仪器建议每年开展计量一次，确认整机电压、电阻测量指标，保证测试结果可靠性；如果设备发生搬运、撞击，建议重新计量校验之后再投入检测工作。 6、如果遇到读数持续超量程、读数剧烈跳变，优先排查：试样是否击穿短路、屏蔽箱门是否关严、电极接触是否良好、环境湿度是否过高，排查环境与试样因素之后再判断仪器设备状态。 7、设备闲置长期不用时，断开电源，存放于‑10℃~60℃干燥室内环境。

  排查方向：第一确认屏蔽箱完全闭合，周边无大功率电气设备干扰；检查电极压合是否到位，薄膜有没有褶皱；确认试样充分恒温恒湿预处理，装夹时不要用手触碰测试区域；检查是否设置足够放电延时，上一次测试残余电荷没有释放完全，会干扰下一次读数；超高绝缘薄膜，需要选用慢速采样档位，降低噪声干扰。

  排查方向：确认薄膜试样没有针孔击穿缺陷；检查厚度参数录入是否和实测厚度一致；确认测量延时时间足够，避开极化初期不稳定的电流读数；确认电极之间没有异物碎屑造成漏电。

  排查方向：重点关注环境湿度，湿度变化会直接改变薄膜表面导电状态；确认薄膜表面没有油污、析出助剂、手汗污染；优先保证试样预处理流程，试样从恒温恒湿箱取出尽快完成测试，减少在空气中暴露吸潮。

  代表被测薄膜电阻数值已经超过仪器当前测量有效区间，该现象常见于超高绝缘薄膜，可确认测试电压设置符合标准；量程上超代表试样阻抗处于很高水平，部分标准允许记录大于某一量级的结果。

  检查 RS232 或者网线接线是否牢靠，确认上位机软件通讯参数和仪器配置保持一致；确认仪器没有处于本地参数编辑界面，切换至测量运行状态。

  薄膜体积表面电阻率测试仪 BEST‑380，针对各类绝缘薄膜、防静电功能薄膜的电学性能检验测试需求开发，依托三电极屏蔽测试体系，解决薄层高阻抗样品测试过程当中漏电流干扰、极化漂移等问题。测试电压 1‑1000V 连续可调，测量阻抗覆盖半导电到超高绝缘区间，内置多套自定义测试方案存储，搭配 RS232、以太网、HANDLER 等多种数据接口，兼顾实验室单机手动检测以及自动化流水线批量测试场景。设备适配多项国内、国际材料测试标准，整机支持计量校准，可用于电子半导体、显示光学、新能源、高分子改性企业、第三方检测、高校科研等领域，完成薄膜体积电阻率、表面电阻率、绝缘电阻、泄漏电流的检测工作。在实际检验测试工作当中，仪器硬件设备是测试基础，试样裁剪清洁、恒温恒湿预处理、测试电压选择、屏蔽环境管控、极化延时设置，都会对最终试验结果带来明显影响，完整遵循标准试验流程，才能够得到稳定、具备对比参考价值的电阻率测试数据。