用于测量在允许电压下不导电的材料、电工产品及元器件绝缘电阻，配恒温水浴可测不一样的温度下无屏蔽层塑料电线电缆绝缘电阻。最高量程10¹⁶Ω，超量程经电流换算可达10²⁰Ω，测试电压1-1000V。

  BEST‑380 薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪，是一款基于高性能微处理器开发的直流高阻检测设备，大多数都用在各类高分子薄膜材料的体积电阻率、表面电阻率测试工作，同时也可完成绝缘电阻、泄漏电流的采集计算，除薄膜试样之外，还适配橡胶、塑料、纺织品、防静电织物、陶瓷、涂料、液体增塑剂等多种固体、半导电介质的电学性能检验测试。高分子绝缘薄膜大范围的应用于电子封装、新能源、电工绝缘、防静电包装等领域，薄膜材料的体积电阻率与表面电阻率，是评价薄膜绝缘水平、防静电能力的关键指标，材料配方、成型工艺、环境温湿度，都会对两项指标产生非常明显影响。

  在薄膜新材料研发、生产的全部过程质控、来料入厂检验、成品型式检验环节，需要借助标准化测试设备，在规定直流电压条件下采集电阻信号，换算得到体积电阻率、表面电阻率，以此完成材料性能分级、配方筛选以及批次质量判定。薄膜试样厚度普遍较薄，部分薄膜属于超高绝缘介质，回路内部会存在微弱的极化电流、表面漏电流，设备依靠微处理器单元完成微弱信号采集，降低微弱电流带来的测量干扰，获取具备可复现性的试验数据。

  整机输出测试电压支持 1‑1000V 区间连续可调，划分上千个电压档位，电阻测量覆盖宽量程区间，超出直显量程时能借助电流换算得到更高量级电阻数值，屏幕可以直读电阻以及换算完成的电阻率结果。设备设置多档测试速度，最高能够达到 5 次每秒，兼顾快速筛查与稳态精密测量两种工作需求。设备内置数据存储单元，支持 10 组测量设置方案保存，不一样薄膜试样能提前编辑测量参数，后续试验直接调用，减少重复设置操作。

  仪器配备多样化对外通讯接口，包含 Handler 接口、RS232 接口、LAN 以太网接口、U 盘接口。Handler 接口可以对接自动化分选系统，完成流水线全自动批量试样筛查；RS232 与以太网接口用于计算机远程控制以及试验数据采集分析，远程控制指令兼容 SCPI 可程控仪器标准命令集，便于接入实验室信息化系统，实现测试流程远程调度、原始数据自动上传归档。U 盘接口支持本地数据导出，方便离线做数据备份处理。

  设备配套上位机操作软件，计算机端能够实现参数下发、测试启停、数据读取、报表导出等操作。搭配屏蔽箱组件，能够更好的降低外界空间电磁干扰，尤其适合高阻薄膜试样的测量，减少空间杂散信号对微弱微电流信号带来的扰动。仪器可以和恒温水浴装置进行配套使用，搭建变温测试条件，完成不一样的温度工况下薄膜绝缘电阻测试，评估气温变化对于薄膜电阻率的影响。

  设备执行对应企业技术规范，硬件电路设置输入端高压短路保护机制，提升操作环节安全性。4.3 寸高分辨率 TFT 彩色显示屏作为人机交互窗口，界面布局清晰，支持中英文语言切换，操作人员可以直接在屏幕读取绝缘电阻、泄漏电流、体积电阻、表面电阻、施加电压等多项实时参数，开机调用保存好的参数方案之后，简单确认即可启动测试流程，降低操作人员学习上手的门槛。设备既适合科研实验室开展新材料机理研究，也能够很好的满足工厂质检部门大批量薄膜样品常态化检测的使用场景。

  GB/T 1410‑2006 固体在允许电压下不导电的材料体积电阻率和表面电阻率试验方法

  GB/T 18864‑2002 硫化橡胶工业用抗静电和导电产品电阻极限范围

  GB/T 22043‑2008 服装防静电性能通过材料的电阻 (垂直电阻) 试验方法

  GJB 5104‑2004 无线电引信风帽用防静电涂料及风帽静电性能通用要求

  针对各类高分子薄膜试样，核心参照 GB/T1410‑2006 开展测试，该标准明确了三电极检测系统的使用方法、试样预处理流程、施加电压、电化延时时间、体积电阻率与表面电阻率的换算计算公式。标准当中提及，高绝缘介质在施加直流电压之后，会出现介质极化现象，电流会随着通电时间发生明显的变化，因此就需要设置合适的电化延时时间，等待电流趋于相对来说比较稳定之后再读取记录数据。操作人员结合薄膜的材质、预估电阻量级，选定标准对应的条款，在仪器端设置测试电压、测量延时、放电延时，录入薄膜试样厚度、电极几何参数，仪器采集得到原始电阻数据，代入标准给定公式，换算得到体积电阻率以及表面电阻率。

  批量薄膜样品检验测试过程中，按照规定要求完成多组平行试样测试，剔除异常试验数据，再做统计运算，降低试样个体差异、环境干扰带来的数据离散。仪器输出原始电阻与电流读数，电阻率数值需要结合试样几何尺寸完成换算，以此保障测试结果符合规定标准的计算逻辑。

  BEST‑380 薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪采用恒压测试法完成测量工作，整机由可调直流电压输出单元、微弱微电流采集单元、微处理器控制单元、人机显示单元、多组对外通讯接口共同组成。开展薄膜测试时，将薄膜试样放置于三电极检测系统内部，整套电极放置在屏蔽箱腔体当中，降低外界电磁信号带来的干扰。

  测试体积电阻时，主电极、保护电极、底电极分别和薄膜试样接触，保护电极用于分流消除试样表面漏电流带来的干扰，直流测试电压施加在主电极与底电极之间，微电流采集单元采集穿过薄膜试样本体的微弱电流；测试表面电阻时，调整电极接线逻辑，采集沿着薄膜试样表面流动的电流信号。仪器采集施加的实际电压数值以及回路电流，依靠欧姆定律计算得到体积电阻 Rv 或者表面电阻 Rs。

  操作人员录入薄膜试样厚度、电极有效几何尺寸，仪器内部程序结合采集得到的电阻值，换算输出体积电阻率、表面电阻率结果。针对高绝缘薄膜，施加直流电压之后，介质极化效应会造成回路电流随时间逐步衰减，仪器支持设置测量延时，等待电流达到相对来说比较稳定状态之后再完成读数记录，以此贴近 GB/T1410‑2006 标准对于电化时间的相关要求。

  仪器内部具备量程自动扫描切换逻辑，无需人工手动切换档位，开机调用已经保存的参数方案，启动之后自动完成量程匹配，直接输出电阻以及换算后的电阻率读数。测试结束之后仪器执行放电流程，释放试样位置残余电荷，减少残余电荷对下一组薄膜试样测试造成的影响。全部测试原始数据可以保存在本机存储单元，也可以经由 RS232、LAN、Handler 接口向外输出，实现本地查看或者上位机远程采集。选配恒温水浴配套组件，就能改变试样环境和温度，完成不一样的温度条件下薄膜电阻率变化规律的测试。

  仪器输出直流测试电压在 1‑1000V 区间可以连续调节，划分上千个档位，操作人员能够准确的通过薄膜材料预估绝缘等级自由设定电压，不再局限于固定档位电压输出，方便研究不同直流电压条件之下薄膜电阻率的变化趋势。基础电阻测量区间覆盖 10²Ω~10¹⁶Ω，部分超高阻值薄膜超出直显量程时，仪器依靠采集到的泄漏电流完成换算，可拓展至 10²⁰Ω，电阻率换算上限可达 10²²Ω・cm，覆盖半导电薄膜到超高绝缘薄膜的宽范围测量需求。

  绝缘电阻基础测量误差可控制在 1%，回读电压精度 0.5%±1V，仪器会回读实际施加到试样两端的真实电压，而不是直接取用设置电压，能够识别电压输出端的微小偏差，保障试验条件的真实性。仪器设置两档测试速度，快速模式可达 5 次 / 秒，适合大批量薄膜样品的快速筛查；慢速模式 1 次 / 秒，适合高阻薄膜，留给电流足够的稳定时间，用于精密稳态测量。最小测试周期 200ms，满足多种试验节奏的使用需求。

  仪器搭载 4.3 寸高分辨率 TFT 彩色显示屏，屏幕可以同步展示绝缘电阻 R、泄漏电流 I、表面电阻 Rs、体积电阻 Rv、实时施加电压等多类参数。界面支持中英文两种语言切换，显示位数支持 4 位、5 位两种模式按需选择。仪器具备设置记忆功能，可以保存 10 套自定义测量模式，用户都能够编辑不同薄膜对应的测试电压、测量延时、放电延时、讯响分选条件，保存之后开机直接调取，不用每一次试验重复逐项录入全部参数。

  操作人员可以自主设定测量延时以及放电延时，适配高绝缘薄膜介质极化带来的电流衰减现象，满足国标对于电化时间的设置要求。仪器具备量程超限提示，区分量程上超、量程下超提示，方便操作人员判断当前试样阻值是否处于仪器有效测量区间。输入端子兼容香蕉插头、BNC 插头，适配三电极检测系统的接线方式。

  仪器内置分选讯响设置，搭配 Handler 接口对接外部自动化分选机构，当薄膜试样电阻落在设定合格区间或者超出区间时，可以输出对应提示信号，实现流水线自动筛查，适合薄膜生产产线 丰富的数据通讯与拓展能力

  设备配置多类型对外接口，Handler 接口用于对接自动化分选设备，实现流水线 接口、以太网 LAN 接口用于连接计算机，远程控制指令兼容 SCPI 可程控仪器标准命令集，计算机可以下发测试指令，读取仪器回传的电压、电流、电阻、电阻率原始数据，完成远程控制和数据采集分析。U 盘接口支持本地数据导出，方便离线备份多组薄膜试样的试验记录。

  配套上位机操作软件，在计算机端完成整套测试流程管控，试验数据可以在计算机做二次统计、报表编辑。仪器可以和恒温水浴组件配套使用，构建变温试验条件，开展不一样的温度下薄膜绝缘电阻测试，分析温度对薄膜体积、表面电阻率的影响。配套屏蔽箱组件，在测量高阻薄膜的时候，屏蔽外界空间电磁干扰，降低微弱微电流测量环节的噪声信号，提升高阻值薄膜测量的稳定性。

  仪器输入端具备高压短路保护机制，降低误操作带来的硬件损伤。精度保证期为 1 年，设备能送至各地计量检验测试的机构开展计量校准，满足实验室计量溯源管理要求。仪器的工作环境和温度 0℃‑40℃，环境湿度 80% RH 以下，不允许出现结露；存储环境‑10℃‑60℃，湿度同样控制在 80% RH 以下，设备适合室内环境使用，使用地点海拔不超过 2000m。供电支持 110V~240V 宽幅双模式交流供电，电源频率 47Hz‑63Hz，整机最大功耗 50W，适配国内以及海外实验室供电条件。整机机身小巧，占用工作台面积不大，便于实验室台面摆放使用。

  测量参数 绝缘电阻 R，泄漏电流 I，表面电阻 Rs，体积电阻 Rv 测试电压 1‑1000v 1000 个档位可以调 测试范围 电阻 \(10^{2} \Omega ~ 10^{16} \Omega\) Ω 基本覆盖半导电材料和超绝缘材料的电阻测量 (超出显示电流最大换算可到 20 次方), 电阻率最高可达到 \(10^{22} \Omega . cm\) 测量方式：手动 / 自动两种 界面语言选择：英文 / 中文两种 显示位数：4/5 位 两种选择 测量模式：三种 测试速度可选择 快速 5 次 / 秒，慢速 1 次 / 秒，两种可选 回读电压精度 0.5%±1V 测试特点：带设置记忆功能开机一键测试出结果不用反复设置 可设定测量延时和放电延时 十种自定义测量模式可以用户自己编辑开机直接调取满足多种材料的测试需求 量程超限显示 量程上超和量程下超 输入端子 香蕉插头，BNC 插头 精度保证期 1 年根据计量证书有效期 可在全国任意检测所检测精度保证 操作温度和湿度 0℃到 40℃80% RH 以下 (无凝结) 存储温度和湿度 - 10℃到 60℃80% RH 以下 (无凝结) 操作环境 室内，最高海拔 2000m 电源 电压：110V/ 220V AC 频率：47Hz/63Hz 两种供电模式 功耗 50 W 尺寸 约 331 mm x 329 mm x 80 mm 重量 约 4.1kg

  1、测试仪器：主机整机，包含微处理器控制单元、电压输出单元、微电流采集单元、4.3 寸 TFT 彩色显示屏，各类通讯接口集成于机身，实现整机全部测量逻辑。 2、电源线：整机供电连接配件，适配宽幅交流供电输入。 3、测试电极：一套三电极测试组件，包含主电极、保护电极、底电极，用于薄膜、片状试样体积电阻、表面电阻测试。 4、使用说明书：包含设备操作指引、参数设置方法、标准参考说明、故障排查、日常维护相关联的内容。 5、出厂测试报告：设备出厂时的性能校验记录文件。 6、上位机连接线：用于主机和计算机建立通讯，实现上位机软件远程控制与数据读取。 7、屏蔽箱：用于隔绝外界电磁干扰，高阻薄膜测试时降低空间杂散信号对微弱电流采集带来的影响。 8、测试夹：辅助夹持试样的配套夹具配件。 9、232 数据串口组件：RS232 串口通讯配套组件，实现串口通讯链路搭建。

  开展薄膜体积电阻率、表面电阻率测试之前，操作人员查阅 GB/T1410‑2006 以及对应产品规范，完成薄膜试样制备。裁切薄膜试样，试样尺寸需要适配三电极系统的电极尺寸，避开薄膜表面折痕、划痕、污渍、孔洞等缺陷位置，试样表面保持洁净。裁切完成之后，按照规定要求完成试样状态调节，放置在规定温湿度环境当中静置足够时长，消除试样内部应力，平衡试样含水率，温湿度条件会明显改变薄膜的绝缘电阻数值，状态调节步骤不可省略。

  测量并且记录薄膜试样的实际厚度，厚度数值是换算体积电阻率的重要输入参数，需要多点测量取平均值。检查三电极组件，电极工作面保持洁净，没有灰尘、油污，电极如果存在氧化，需要做清洁处理。将整套电极放置在屏蔽箱腔体内部，完成电极接线，区分主电极、保护电极、底电极对应的接线端子。确认主机放置在水平稳固工作台，远离强电磁干扰源，供电接线连接完好。接通电源，开启主机，等待仪器开机自检完成。若需要使用计算机上位机控制，使用上位机连接线把仪器和计算机相连，启动配套上位机软件。

  仪器自检完成，进入主显示界面。操作人能直接调用已经保存好的自定义测量模式，也可以手动逐项设置全部参数。选择测量方式为手动模式或者自动模式；选定测量模式，设置测试电压；设置测量延时、放电延时，高绝缘薄膜需要设置更长的测量延时，留给介质极化电流足够的稳定时间。输入薄膜试样厚度数值，确认电极几何参数，仪器会使用这一些参数完成电阻率换算。设置测试速度，半导电薄膜能选用快速 5 次 / 秒；超高绝缘薄膜优先选用慢速 1 次 / 秒。

  如果需要启用分选讯响功能，设置电阻合格上下限，开启讯响提示；确认界面语言、显示位数。全部参数核对无误之后，可以将整套参数保存为一组自定义测量模式，后续同类型薄膜测试直接调取，减少重复录入。确认接线没有错误，区分体积电阻测试接线方式和表面电阻测试接线方式，两种测试的电极接线逻辑存在差异，接线错误会造成测试结果失线 放置试样，启动测试

  打开屏蔽箱箱门，把预处理完成的薄膜试样平整放置在三电极系统中间位置，保证薄膜试样和各个电极工作面充分贴合，薄膜不要出现褶皱、翘边，试样位置居中，保证电极有效区域完整覆盖薄膜。关闭屏蔽箱箱门，屏蔽箱闭合之后，才可以开启测试，以此发挥屏蔽抗干扰作用。

  在仪器触摸屏或者上位机软件点击启动测试，仪器输出设定直流测试电压，开始采集回路泄漏电流。计时到达设置的测量延时之后，仪器读取稳定之后的电流、电压，自动计算绝缘电阻，并且换算输出体积电阻率或者表面电阻率；测试完成之后，仪器自动执行放电流程，释放试样位置残余电荷，避免残余电荷对下一组试样带来干扰。

  测试运行阶段屏幕实时刷新各项参数，如果出现量程上超或者量程下超提示，代表当前薄膜试样阻值超出该档位有效测量区间，仪器会自动切换适配量程；如果反复出现量程超限，需要评估试样是否超出整机测量范围。测试过程当中如果出现异常，立刻终止测试，排查接线、试样、环境干扰等因素，排除之后再继续试验。

  单次测试流程结束之后，屏幕直接展示本组试样绝缘电阻、泄漏电流、电阻、换算得到的电阻率等全部结果。本机可以保存测试记录；如果使用上位机软件，计算机端同步接收全部原始数据。操作人员可以按需选择通过 U 盘导出本机记录，或者在上位机软件完成数据保存。

  当日试验全部结束，确认仪器完成放电，关闭测试输出，关闭主机电源。取出屏蔽箱内部试样，清洁电极工作面，清理屏蔽箱腔体内部灰尘。如果长期不使用，断开供电电源。

  薄膜体积电阻率、表面电阻率测试属于微弱微电流测量，试验结果很容易受到试样本身状态、电极接线、屏蔽条件、电压与延时设置、环境温湿度等多重条件的干扰，薄膜试样大多厚度很薄，介质极化效应明显，测试过程管控各项条件，才能够保障数据的重复性。

  薄膜试样裁切环节，要选取无划痕、无针孔、无油污的区域，针孔、微小破损会造成局部漏电，直接拉低电阻测试数值。薄膜表面的油污、灰尘会改变表面漏电情况，对表面电阻率测量带来明显干扰，测试前按照标准完成清洁与状态调节。薄膜厚度测量需要多点取平均值，厚度输入错误会直接造成体积电阻率换算结果出现偏差。

  测试电压选择同样会带来影响，部分薄膜材料电阻会随施加直流电压大小发生变化，需要按照产品标准规定选用测试电压，不可以随意更改电压档位。体积电阻测试与表面电阻测试需要切换电极接线，接线混淆会直接得到错误的测试结果，试验前确认接线逻辑。高阻薄膜必须闭合屏蔽箱开展测试，外界电磁噪声会叠加到微弱微电流信号上，造成读数漂移，数据重复性变差。

  同一批次薄膜样品，需要完成多组平行试样测试，剔除异常点，做统计运算，降低薄膜本身局部不均匀带来的数据离散。

  防静电、半导电薄膜整体电阻量级偏低，介质极化效应相对微弱，测量延时可以适当缩短，能选用快速测试速度，适合大批量筛查。这类薄膜重点关注表面电阻率指标，测试时保证试样表面洁净，表面沾染粉尘会改变表面导电状态。注意电极和薄膜表面充分贴合，薄膜出现翘边，会造成接触不良，带来读数波动。

  电极工作面状态，电极表面氧化、沾染灰尘油污，会引入额外接触干扰，每次试验前后做好电极清洁。环境湿度是不可忽视的因素，环境湿度偏高，薄膜表面会吸附水汽，表面电阻率会出现明显下降，条件允许时尽量在标准温湿度实验室开展测试。

  仪器开机自检之后进入主操作显示界面，4.3 寸 TFT 彩屏分区展示实时绝缘电阻 R、泄漏电流 I、表面电阻 Rs、体积电阻 Rv、输出电压，同步显示设备运行状态，待机、测试中、测试完成、量程超限提示。界面可以完成测量模式调用、参数设置、启动、停止、数据查看等触控操作。测试运行过程实时刷新采集数值，出现量程上超、下超给出对应提示，操作人能直观掌握薄膜试样的测量状态。界面支持中英文语言切换，4 位 / 5 位显示位数切换。

  进入参数设置界面，操作人员完成测试电压、测量方式手动 / 自动、测量延时、放电延时、测试速度、分选上下限、试样厚度、电极几何参数等内容录入。可以编辑 10 套自定义测量模式，编辑完成之后保存，不同类型薄膜直接调用对应模式，不需要每一次逐项输入全部参数。界面具备保存、取消确认操作按键，参数保存之后在下一次测试生效。

  本机存储的测试记录，可以在本机界面查看，记录包含每组薄膜试样的电压、电流、电阻、换算电阻率。支持 U 盘插入本机，把历史记录导出至 U 盘，完成离线备份。记录信息可用于后期试验数据回溯，对比不同配方、不同工艺薄膜的电学性能差异。

  计算机端上位机软件，依靠 RS232 或者 LAN 以太网和主机建立通讯，通讯兼容 SCPI 指令集。上位机软件可以下发全部测试参数，远程启动、终止测试；实时接收主机回传的电压、电流、电阻、电阻率原始数据；软件内完成数据查看、统计，导出报表文件，适合实验室信息化系统对接，大批量薄膜试样的集中数据管理。

  BEST‑380 薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪属于微弱微电流高阻精密测量仪器，操作人员阅读完整说明书，理解高阻测试原理、三电极接线逻辑之后再开展薄膜试样测试工作。仪器放置在水平稳固工作台，远离大功率变频器、电机等强电磁干扰源，高阻测量时电磁噪声会直接造成读数漂移。设备正常运行环境保持干燥通风，环境湿度控制在 80% RH 以下，不能出现结露，高湿度环境既会影响测量，也会加速电极金属部件氧化。

  区分体积电阻测试、表面电阻测试对应的三电极接线，接线错误将得到无效测试数据。开展超高绝缘薄膜测试，屏蔽箱箱门必须闭合，不可敞开门开展高阻测量，否则外界电磁干扰会造成数据波动。电极组件一定要做好保护，避免硬物刮擦电极工作面，电极出现氧化、污渍及时做清洁维护。

  设置测试电压，不可以超出仪器标称 1‑1000V 输出区间。出现量程超限提示，先确认试样接线、试样状态，评估薄膜试样阻值是否落在仪器测量区间。测试过程出现异常报警，立刻停止测试，确认仪器完成放电之后，排查接线、试样、外因；外部因素排除之后故障任旧存在，不要自行拆解仪器内部电路。

  每一组薄膜试样测试结束，等待仪器自动放电流程完成，再打开屏蔽箱取出试样，残余电荷没有释放完全，一方面存在安全风险，另一方面残余电荷会干扰下一组薄膜的电流采集。试验结束及时清洗整理电极、屏蔽箱腔体内部灰尘、薄膜碎屑。仪器配套上位机连接线 串口组件，插拔通讯接口时尽量断电操作，防止静电损伤通讯端口。

  本机依靠内部存储单元保存薄膜试样试验记录，每组记录包含测试电压、泄漏电流、绝缘电阻、体积电阻或表面电阻、换算电阻率、测试时间等信息。数据输出有三种途径：本机屏幕直接查看；U 盘本地导出；RS232/LAN 接口上传至上位机软件。

  高绝缘薄膜，介质极化带来的电流衰减现象突出，测量延时设置直接影响电阻读数，报告输出数据需要同步记录本次测试使用的测试电压、电化延时时间、环境温湿度，方便不同批次薄膜之间做数据比对。

  在薄膜新材料研发工作中，可以对比改性前后、不同成型工艺薄膜的体积电阻率、表面电阻率，评估配方、工艺对绝缘、防静电性能带来的改变。工厂质检场景，依靠多组平行试样统计结果，完成薄膜产品批次判定。上位机软件可以对接实验室信息化平台，把批量薄膜测试原始数据自动归档，满足检验测试的机构数据溯源管理需求。

  BEST‑380 薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪面向高分子材料、电子电气、新能源、纺织、防静电材料、科研检验测试的机构，适配多类业务场景，除各类薄膜之外，也兼容橡胶、塑料、防静电织物、涂料、陶瓷、液体增塑剂等材料测试。

  高分子薄膜生产企业，用于薄膜生产的全部过程质量管控。绝缘薄膜、防静电薄膜经过改性、流延、吹膜等工序，每一批次成品薄膜抽样开展体积电阻率、表面电阻率测试，评估产品性能是不是达到技术指标，完成成品出厂检验；在薄膜改性研发阶段，对比不同填料配比、不同加工工艺薄膜在不同电压条件下电阻率变化，筛选材料配方与加工工艺。

  电子、新能源零部件制造企业，针对封装绝缘薄膜、电池隔离膜、防静电包装薄膜开展来料入厂检验，抽样检验测试薄膜绝缘以及防静电指标，筛选合格原材料，规避不合格原料流入生产环节。

  防静电材料生产企业，针对防静电薄膜、防静电织物、防静电涂层板材开展检测，参照防静电相关国家及行业标准，评价材料防静电等级。

  橡胶塑料生产企业，针对橡胶片材、塑料板材开展体积、表面电阻率测试，评估绝缘或者抗静电性能；涂料生产企业测试防静电涂料固化之后的电阻率指标。

  第三方材料检验测试的机构，承接高分子薄膜、绝缘材料委托检验测试业务，按照 GB/T1410‑2006 等标准开展测试，输出试验数据，为委托方提供材料性能检验测试服务。

  高校、科研院所材料实验室，用于课题研究与教学试验，开展高分子薄膜、复合材料电学性能科研试验，研究电压、温度、湿度对于材料电阻率的影响，获取材料电学特性变化规律，支撑新材料课题研究。

  搭配 Handler 接口对接自动化分选机构，能够适用于薄膜产线流水线批量筛查，完成合格、不合格样品自动分选。搭配恒温水浴组件，可以搭建变温试验环境，研究气温变化对薄膜绝缘性能带来的影响。设备覆盖配方研发筛选、原材料入厂质检、生产的全部过程质控、成品出厂检验、流水线自动筛查、第三方委托检测、科研教学多个业务场景。

  仪器属于高阻微弱电流精密测量设备，常态化维护可以保障电压输出、微电流采集准确度，保障薄膜试样测试的数据重复性。

  每一次试验结束，检查三电极组件，擦拭电极工作面，清除薄膜碎屑、灰尘、油污，保持电极洁净；避免硬物磕碰刮擦电极，电极出现明显氧化时，按照规范做清洁维护。屏蔽箱腔体内部定期清理灰尘，灰尘堆积会造成内部漏电流增大，干扰高阻薄膜的测试。检查各个通讯接口、测试接线端子，保证接线接触良好，接线端子出现氧化及时做处理。

  设备放置环境做好防尘防潮，长期停机状态，断开供电电源，做好整机防尘遮盖。供电电源尽可能保持稳定，避免频繁断电冲击仪器电路。

  仪器的电压输出单元、微电流采集单元属于核心精密器件，需要定期开展计量校准。参照计量规范，使用标准高阻计量器具，完成电压示值、电阻示值校准，确认仪器采集准确度满足检测工作需求。经过计量校准，保障仪器输出原始数据可信，使得薄膜体积电阻率、表面电阻率测试结果具备计量溯源能力。

  仪器运行出现异常报错，优先停止测试，确认放电完成，断开电源，核对参数设置、接线、试样状态，排查外部因素；外部问题排除之后故障依旧，联系技术人员协助排查，不要自行拆开仪器内部壳体，避免损坏内部精密采集电路。

  配套上位机连接线 串口组件、U 盘接口，插拔操作尽量在断电状态执行，降低静电损伤端口的概率。建立设备使用记录，登记仪器使用时长、计量校准时间、故障维护情况，完成设备全生命周期管理。